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机器视觉检测案例--晶片视觉检测方案
发表时间:2019-12-27 11:40
一、检测内容及要求
 
检测内容:
       最大尺寸长20mm*高0.5mm的产品的外观检测

序号 检测位置 检测方式 是否可检 备注
1 电极偏差 背光检测 可检
 
2 缺口 背光检测 可检
 
4 黑点 正光检测 可检
 
5
 

 

 

 
6 其余特征
 
不可检 特征不清晰
 
注明:以上检测项目,均需在影像下清晰可见才能检测。
检测效率:每分钟检测数量 不低于150件(取决于产品送料速度)。
 
二、设备组成及主要机构
设备型号:SP-T300非标定制机          外形尺寸:900*800*1850mm
         组成部件清单:
序号 部件名称 规格型号 数量 备注
1 视觉检测软件 SIPOTEK 1套 数据可上传
2 工业电脑 SIPOTEK定制 1套
 
3 显示器 PHILIPS  19”液晶显示器 1台
 
4 工业相机 Barsler工业相机 3套
 
5 相机调节伺服模组 SIPOTEK定制 3套
 
6 工业镜头 FA高清光学工业镜头 3套
 
7 光源 定制光学自适应光源 3套
 
8 检测平台 专业光学玻璃载台 1套
 
9 伺服电机 松下·PANASONIC 1套
 
10 控制系统 SIPOTEK定制 1套
 
11 PLC运动协作 松下·PANASONIC 1套
 

三、设备外观3D立体图
 
晶片视觉检测方案晶片视觉检测方案
 
四、样件测试图片:
 
晶片视觉检测方案
 
1.底部正光检测良品分析图:OK
 

 
   1.底部正光检测不良品分析图:NG   不良特征: 黑点      分析结果:可检
 

 
 2.顶部正光检测原图:
 
晶片视觉检测方案
 
  2.顶部正光检测良品分析图:OK
 
晶片视觉检测方案
 
 2.顶部正光检测不良品分析图:NG   不良特征: 黑点      分析结果:可检
 
晶片视觉检测方案
 
3.顶部背光检测原图:
 
机器视觉检测案例
 
3.顶部背光检测良品分析图:OK
 
机器视觉检测案例
 
3.顶部背光检测不良品分析图:NG   不良特征: 缺口      分析结果:可检
 
机器视觉检测案例
 
3.顶部背光检测不良品分析图:NG   不良特征: 电极偏差      分析结果:可检
 
机器视觉检测案例
五、系统安装要求:
设备放置的检测空间:  立体式设备检测机台配置检测软件和所需相机光源,需要保证有足够的空间以安装设备。
 
环境温度: 0-50摄氏度;
空气湿度: 90% RH以下;
电子干扰: 为设备提供电子干扰较小的地方。
电源:        交流220V,50Hz,  耗电<1KVA。
 

检测视频

DETECTION ViDEO